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膜厚測(cè)試儀工作特點(diǎn)

更新時(shí)間:2014-10-31      點(diǎn)擊次數(shù):3036

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920系列具有高性價(jià)價(jià)比,有著非破壞、非接觸、多合金測(cè)量、測(cè)量元素范圍廣、測(cè)量、測(cè)量時(shí)間短等特點(diǎn);具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性,能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,節(jié)約電鍍成本。

鍍層測(cè)厚儀X-Strata920工作特點(diǎn):

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